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硅多晶真空區(qū)熔基硼檢驗方法   
關(guān)鍵詞：GB/T 4060-2007
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于多晶硅沉積在硅芯上生長的多晶硅棒基硼的檢驗。

硅多晶氣氛區(qū)熔基磷檢驗方法   
關(guān)鍵詞：GB/T 4059-2007
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于多晶硅沉積在硅芯上生長的多晶硅棒基磷的檢驗。

硅拋光片氧化誘生缺陷的檢驗方法   
關(guān)鍵詞：GB/T 4058-2009
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅拋光片氧化誘生缺陷的檢驗方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅拋光片表面區(qū)在模擬器件氧化工藝中誘生或增強(qiáng)的晶體缺陷的檢測。 硅單晶氧化誘生缺陷的檢驗也可參照此方法。

絕緣子串元件的球窩連接尺寸   
關(guān)鍵詞：GB/T 4056-2008
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于盤形和長棒形絕緣子串元件及其金屬附件。

紅色合成剛玉   
關(guān)鍵詞：GB/T 4051-2013
摘　要：

計時儀器　手表殼與表帶連接部位的尺寸系列   
關(guān)鍵詞：GB/T 4048-2008
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用彈簧表帶栓將表帶連接到表殼上的尺寸。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于兩種類型的表殼和三種類型的彈簧表帶栓。

具有擺輪游絲振蕩系統(tǒng)的精密手表   
關(guān)鍵詞：GB/T 4032-2013
摘　要：

計時儀器的檢驗位置標(biāo)記   
關(guān)鍵詞：GB/T 4028-2013
摘　要：

人機(jī)界面標(biāo)志標(biāo)識的基本和安全規(guī)則　設(shè)備端子和導(dǎo)體終端的標(biāo)識   
關(guān)鍵詞：GB/T 4026-2010
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于如電阻、熔斷器、繼電器、導(dǎo)體、變壓器、旋轉(zhuǎn)機(jī)械及類似電氣設(shè)備組合的端子的標(biāo)識與標(biāo)志。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于某些特定導(dǎo)體的端子標(biāo)識。本標(biāo)準(zhǔn)還包括了字母數(shù)字系統(tǒng)的一般規(guī)則。

人機(jī)界面標(biāo)志標(biāo)識的基本和安全規(guī)則　指示器和操作器件的編碼規(guī)則   
關(guān)鍵詞：GB/T 4025-2010
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)對指定某些視覺、聽覺和觸覺標(biāo)識的特定含義建立了一般規(guī)則。

半導(dǎo)體器件　分立器件和集成電路　第2部分：整流二極管   
關(guān)鍵詞：GB/T 4023-2015
摘　要：

臥軸矩臺平面磨床　精度檢驗　第1部分：工作臺面長度至1　600　mm的機(jī)床   
關(guān)鍵詞：GB/T 4022.1-2007
摘　要： 本標(biāo)準(zhǔn)的本部分規(guī)定了一般用途和普通精度的工作臺面長度至1600mm臥軸矩臺平面磨床的幾何精度檢驗和工作精度檢驗以及相應(yīng)的允差.

臥式車床精度檢驗   
關(guān)鍵詞：GB/T 4020-1997
摘　要：

方柱立式鉆床　精度檢驗　第2部分：工作精度檢驗   
關(guān)鍵詞：GB/T 4019.2-1997
摘　要：

方柱立式鉆床　精度檢驗　第1部分：幾何精度檢驗   
關(guān)鍵詞：GB/T 4019.1-1997
摘　要：