基于NormalizedC_L準(zhǔn)則的ECAP裂紋萌生趨勢的數(shù)值模擬
- 2012-7-24 11:44:04
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作 者:陳文杰, 周清, 鄧竹君, 張方哲
關(guān) 鍵 詞:等徑角擠壓;,數(shù)值模擬;,裂紋損傷;,多道次
文獻(xiàn)摘要:根據(jù) N or malized Co ckcr oft & Latham 韌性斷裂準(zhǔn)則, 利用 Defor m 2D 對(duì) 6061Al 等徑角擠壓過程進(jìn)行了裂 紋
萌生趨勢的模擬, 在一道次模擬中, 得出了模具拐角 、外轉(zhuǎn)角半徑 r 與背壓對(duì)試樣裂 紋損傷分布 的影響: 模具 拐
角越大, 裂紋損傷值越小; 外轉(zhuǎn)角半徑 r= 6 mm 為最佳, 大于 6 mm 時(shí)裂 紋損傷值增大; 施加背壓有利于減少裂紋
的產(chǎn)生, 背壓越大, 裂紋損傷值越小, 但是, 考慮到 ECA P 的效率 , 背壓值 不能選擇太大的數(shù)值。對(duì)多道次 ECAP
進(jìn)行數(shù)值模擬, 并與實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證。結(jié)果表明, 三道次、A 路線擠壓后裂 紋損傷值在上表層最大。