GB/T 8760-2006砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測量方法
中文名稱:砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測量方法
英文名稱:Gallium arsenide single crystal—Determination of dislocation density
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 8760-2006
標(biāo)準(zhǔn)類型CN
發(fā)布日期:2006-7-18
實(shí)施日期:2006-11-1
摘要: 本標(biāo)準(zhǔn)適用于位錯(cuò)密度為0--100000個(gè)/CM 的砷化鎵單晶的位錯(cuò)密度的測量。檢驗(yàn)面為[111]面和[100]面。
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