欧美成人精品一区二区男人小说,美媛馆国产精品一区二区,亚洲成人av一区二区,欧美momandson

中文名稱：硅拋光片表面顆粒測試方法

英文名稱：Test method of particles on silicon wafer surfaces

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19921-2005

標(biāo)準(zhǔn)類型CN

發(fā)布日期：2005-9-19

實(shí)施日期：2006-4-1

摘要： 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用掃描表面檢查系統(tǒng)對硅拋光片表面顆粒進(jìn)行測試，計(jì)數(shù)和報(bào)告的程序。

>> 更多信息及訂購