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中文名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法　第3部分：平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法

英文名稱：Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5594.3-2015

標(biāo)準(zhǔn)類型CN

發(fā)布日期：2015-5-15

實(shí)施日期：2016-1-1

摘要：

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