GB/T 17473.3-2008微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
中文名稱：微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
英文名稱：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of sheet resistance
標準號：GB/T 17473.3-2008
標準類型CN
發布日期：2008-3-31
實施日期：2008-9-1
摘要：本標準規定了微電子技術用貴金屬漿料中方阻的測定方法。
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