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中文名稱：微電子技術用貴金屬漿料測試方法　細度測定

英文名稱：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of fineness

標準號：GB/T 17473.2-2008

標準類型CN

發布日期：2008-3-31

實施日期：2008-9-1

摘要：本標準規定了微電子技術用貴金屬漿料中細度的刮板測定方法。

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