GB/T 26140-2010無損檢測(cè) 測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法
中文名稱:無損檢測(cè) 測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法
英文名稱:Non-destructive testing—Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26140-2010
標(biāo)準(zhǔn)類型CN
發(fā)布日期:2011-1-14
實(shí)施日期:2011-10-1
摘要:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了中子衍射測(cè)量多晶材料殘余應(yīng)力的方法,本標(biāo)準(zhǔn)適用于均勻和非均勻材料以及含不同晶相的塊狀樣品檢測(cè)。
本標(biāo)準(zhǔn)簡要介紹了中子衍射技術(shù)的原理,測(cè)量不同種類材料時(shí)對(duì)應(yīng)采用的衍射晶面給出了建議,為如何選擇與被測(cè)材料晶粒尺寸和應(yīng)力狀態(tài)有關(guān)的測(cè)量方向和待測(cè)體積提供了指導(dǎo)。
本標(biāo)準(zhǔn)描述了準(zhǔn)確定位和校正中子束內(nèi)檢測(cè)部位的過程,目的是在測(cè)量時(shí)能夠準(zhǔn)確定義樣品材料的取樣體積。
本標(biāo)準(zhǔn)描述了標(biāo)定中子衍射裝置需要注意的問題,介紹了獲取無應(yīng)力參考值的技術(shù)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了中子衍射測(cè)量各種彈性應(yīng)變的方法,闡明了結(jié)
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