GB/T 1555-2009半導體單晶晶向測定方法
中文名稱：半導體單晶晶向測定方法
英文名稱：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
標準號：GB/T 1555-2009
標準類型CN
發布日期：2009-10-30
實施日期：2010-6-1
摘要：本標準規定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。
本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數原子面的表面取向。
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