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中文名稱：半導體管特性圖示儀通用規范

英文名稱：General specification test methods for semiconductor device curve tracers

標準號：GB/T 13973-2012

標準類型CN

發布日期：2012-12-31

實施日期：2013-6-1

摘要：本標準規定了半導體管特性圖示儀（以下簡稱圖示儀）的術語和定義、要求、測試方法、質量檢驗規則、標識、包裝、運輸、貯存等，適用于測試半導體管特性曲線和直流參數的半導體管特性圖示儀，也適用于具有插入單元或附屬裝置的半導體管特性圖示儀。

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