欧美成人精品一区二区男人小说,美媛馆国产精品一区二区,亚洲成人av一区二区,欧美momandson

中文名稱：重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜檢測方法

英文名稱：Test method for measuring Boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry

標準號：GB/T 24580-2009

標準類型CN

發布日期：2009-10-30

實施日期：2010-6-1

摘要：本標準規定了重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜測試方法。本標準適用于二次離子質譜法（SIMS）對重摻n型硅襯底單晶體材料中痕量硼沾污（總量）的測試。

>> 更多信息及訂購