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中文名稱：酸浸取　原子吸收光譜法測定　多晶硅表面金屬污染物

英文名稱：Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy

標準號：GB/T 24579-2009

標準類型CN

發布日期：2009-10-30

實施日期：2010-6-1

摘要：本標準規定了用酸從多晶硅塊表面浸取金屬雜質，并用石墨爐原子吸收定量檢測多晶硅塊表面上的痕量金屬雜質分析方法。

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