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中文名稱：電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

英文名稱：Design margin and abuse tests for electronic measuring instruments

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 13166-1991

標(biāo)準(zhǔn)類型CN

發(fā)布日期：1991-9-3

實(shí)施日期：1992-5-1

摘要：

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