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中文名稱：納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定　X射線衍射線寬化法

英文名稱：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

標準號：GB/T 23413-2009

標準類型CN

發(fā)布日期：2009-4-1

實施日期：2009-12-1

摘要：本標準規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數(shù)法。

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