GB/T 22586-2008高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測試
中文名稱:高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測試
英文名稱:Measurements of surface resistance of high temperature superconductor thin films at microwave frequencies
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 22586-2008
標(biāo)準(zhǔn)類型CN
發(fā)布日期:2008-12-15
實(shí)施日期:2009-5-1
摘要:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測試超導(dǎo)體表面電阻的方法,包括要求、裝置、測試步驟、測試方法的精密度和精確度、測試報(bào)告等內(nèi)容。
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